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  • AP-CJ微電腦溫沖試驗箱
    AP-CJ微電腦溫沖試驗箱

    微電腦溫沖試驗箱適用于電子電器零組件、通訊組件、自動化零部件、汽車配件、化學材料、金屬、塑膠等行業、航天、國防工業、BGA、兵工業、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物對高、低溫的反復抵拉力及產品處于熱脹冷縮的物理環境產出的化學變化或物理傷害,可確認各種產品的品質,從精密的IC到重機械的組件,無一不需要它,目前此設備是工業產業共認的理想測試工具。

    更新時間:2024-11-08型號:AP-CJ訪問量:2420
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  • AP-CJ模擬環境溫度沖擊測試設備
    AP-CJ模擬環境溫度沖擊測試設備

    模擬環境溫度沖擊測試設備可在預約開機時間運轉中自動提前預冷、預熱、待機功能。結構設計為蓄熱槽、測試槽、蓄冷槽三部分,被測試物品靜止置放于測試室內,可選擇2區或3區之測試功能。可獨立設定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能,執行冷熱沖擊條件時,具有高低溫試驗機的功能。

    更新時間:2024-11-08型號:AP-CJ訪問量:2223
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  • AP-CJ冷熱沖擊箱試驗設備
    AP-CJ冷熱沖擊箱試驗設備

    冷熱沖擊箱是一種用于測試產品在溫度變化環境下的穩定性和可靠性的試驗設備。該設備可以模擬高溫、低溫和急速溫度變化的條件,從而評估產品在這些環境下的耐受能力。

    更新時間:2024-11-07型號:AP-CJ訪問量:2442
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  • AP-CJ溫沖試驗設備標準
    AP-CJ溫沖試驗設備標準

    溫沖試驗設備標準試驗目的是為了仿真不同電子構件,在實際使用環境中遭遇的溫度條件,改變環境溫差范圍及急促升降溫度改變,可以提供更為嚴格測試環境,縮短測試時間,降低測試費用,但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響,產生非使用狀態的破壞試驗。

    更新時間:2024-11-07型號:AP-CJ訪問量:2540
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  • AP-CJ元器件熱沖擊
    AP-CJ元器件熱沖擊

    元器件熱沖擊用于測試電子產品,電子,電器,電子產品,電子元器件,數碼產品,手機,電腦,太陽能組件等產品及零部件在瞬間下經*溫及極低溫的連續環境下忍受的程度,得以在Z短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。

    更新時間:2024-11-07型號:AP-CJ訪問量:2211
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